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英國易高Elcometer456探頭

英國易高Elcometer456探頭

簡要描述:
英國易高Elcometer456探頭
為滿足客戶的特定應(yīng)用要求,所有的Elcometer 456探頭*可互換,且提供大量的設(shè)計與刻度范圍

更新時間:2023-03-06

訪問量:4338

廠商性質(zhì):代理商

生產(chǎn)地址:英國

英國易高Elcometer456探頭

為滿足客戶的特定應(yīng)用要求,所有的英國易高Elcometer456探頭*可互換,且提供大量的設(shè)計與刻度范圍。

  • 平直探頭 – 可在平面和曲面上測量涂層
  • 微型探頭 - 是測量邊緣涂層、窄管涂層或小型表面區(qū)域涂層的理想產(chǎn)品
  • 直角探頭 – 用于測量難以接近的地方
  • PINIP™探頭 – 插入式探頭,可把分體式儀器轉(zhuǎn)化為整體式儀器
  • 遠端探頭 – 可延伸直角探頭到達一般探頭難以到達的地方
  • 超聲/掃描探頭 - 這些探頭均裝有可更換式探頭蓋-用戶可獲取單個讀數(shù)或掃描大塊表面區(qū)域,而不會損壞探頭
  • 防水探頭– 封閉設(shè)計,深水中使用,即使佩戴潛水手套也不影響使用
  • 高溫探頭 – 可用在溫度高達250℃(480℉)的涂層上
  • 陽極氧化探頭 – 抗化學溶劑腐蝕,非常適合用在陽極氧化環(huán)境中
  • 鎧裝探頭 – 探頭帶有重型金屬強化電纜,可降低電纜損壞風險
  • 軟涂層探頭 – 大塊面積表面探頭,用于檢測軟性覆蓋材料(經(jīng)HVCA認證)
  • 專業(yè)探頭 - 這些探頭可用在專業(yè)基體上測量,如:石墨或電鍍組件

 

 

鐵基探頭測量鐵磁基體上的非磁性涂層厚度。 Elcometer 456鐵基類儀器認可任何鐵基探頭。 非鐵基探頭測量非鐵基金屬基體上的非導電涂層厚度,Elcometer 456非鐵基類儀器認可任何非鐵基探頭。 兩用FNF探頭可同時用于鐵基和非鐵基應(yīng)用,具有自動識別基體功能。 Elcometer 456 FNF類儀器認可所有鐵基、非鐵基以及兩用FNF探頭。

 

 

除非另有說明,需在低達150°C(300°F)的環(huán)境中使用,PINIP探頭需在80°C(176°F)的環(huán)境下使用。

 

 

所有均帶有檢測證書以及一套適用于該探頭刻度范圍的校準膜片。

 

各種涂層/基體的相應(yīng)探頭選擇

附件


量程1

測量范圍:

0-1500μm (0-60mils)

精確度*:

±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil)

分辨率:

0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-1500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-60mils)

 

探頭設(shè)計

 

凸面直徑

凹面半徑

zui小凈空高度

zui小樣本半徑?

直探頭

鐵基

F

T456CF1S

4mm (0.16")

25mm (0.98")

85mm (3.35")

4mm (0.16")

非鐵基

N

T456CN1S

10mm (0.39")

10mm (0.39")

85mm (3.35")

4mm (0.16")

兩用型

FNF

T456CFNF1S

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 26mm (1.02")

12.5mm (0.49")

88mm (3.46")

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 6mm (0.24")

直角探頭

鐵基

F

T456CF1R

4mm (0.16")

25mm (0.98")

28mm (1.10")

4mm (0.16")

非鐵基

N

T456CN1R

10mm (0.39")

14mm (0.55")

28mm (1.10")

4mm (0.16")

兩用型

FNF

T456CFNF1R

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 26mm (1.02")

12.5mm (0.49")

38mm (1.50")

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 6mm (0.24")

微型M5-90度探頭

鐵基

F

T456CFM5R90A

3mm (0.12")

6.5mm (0.26")

Headroom: 16mm (0.63")

Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

陽極氧化型

非鐵基

N

T456CN1AS

10mm (1.38")

14mm (0.55")

100mm (3.94")

4mm (0.16")

PINIP探頭

鐵基

F

T456CF1P

4mm (0.16")

60mm (2.36")

170mm (6.69")

4mm (0.16")

非鐵基

N

T456CN1P

10mm (0.39")

50mm (1.97")

180mm (7.09")

4mm (0.16")

兩用型

FNF

T456CFNF1P

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 26mm (1.02")

65mm (2.56")

180mm (7.09")

F Mode: 4mm (0.16")

N Mode: 6mm (0.24")

 

 


量程 2

測量范圍:

0-5mm (0-200mils)

精確度*:

±1-3% or ±20μm (±1.0mil)

分辨率:

1μm: 0-1mm; 10μm: 1-5mm (0.1mil: 0-50mils; 1mil: 50-200mils)

 

在稀薄涂層上須具有更高的分辨率和準確性,量程2鐵基探頭性能可轉(zhuǎn)化為量程1性能

 

探頭設(shè)計

 

凸面直徑

凹面半徑

zui小凈空高度

zui小樣本半徑?

直探頭

鐵基

F

T456CF2S

4mm (0.16")

25mm (0.98")

89mm (3.50")

8mm (0.32")

非鐵基

N

T456CN2S

100mm (3.97")

150mm (5.90")

88mm (3.46")

14mm (0.55")

直角探頭

鐵基

F

T456CF2R

4mm (0.16")

25mm (0.98")

32mm (1.26")

8mm (0.32")

鎧裝探頭

鐵基

F

T456CF2ARM 

4mm (0.16")

25mm (0.98")

138mm (5.43")

8mm (0.32")

可伸縮探頭

鐵基

F

T456CF2T

4mm (0.16")

25mm (0.98")

36mm (1.42")

8mm (0.32")

軟涂層探頭

鐵基

F

T456CF2B

Flat Surface

Flat Surface

89mm (3.50")

8mm (0.32")

防水探頭

鐵基

F

T456CF2SW-15

4mm (0.16")

40mm (1.98")

130mm (5.12")

8mm (0.32")

PINIP探頭

鐵基

F

T456CF2P

4mm (0.16")

60mm (2.36")

174mm (6.85")

8mm (0.32")

非鐵基

N

T456CN2P

100mm (3.97")

150mm (5.90")

185mm (7.28")

14mm (0.55")

高溫探頭

250°C (480°F)

鐵基

F

T456CF2PHT

4mm (0.16")

60mm (2.36")

174mm (6.85")

8mm (0.32")

 

 


量程 3

測量范圍:

0-13mm (0-500mils)

精確度*:

±1-3% or ±50μm (±2.0mils)

分辨率:

1μm: 0-2mm; 10μm: 2-13mm (0.1mil: 0-100mils; 1mil: 100-500mils)

 

探頭設(shè)計

 

凸面直徑

凹面半徑

zui小凈空高度

zui小樣本半徑?

直探頭

鐵基

F

T456CF3S

15mm (0.59")

40mm (1.57")

102mm (4.02")

14mm (0.55")

PINIP探頭

鐵基

F

T456CF3P

15mm (0.59")

45mm (1.77")

184mm (7.24")

14mm (0.55")

 

 


量程 6

測量范圍:

F: 0-25mm (0-980mils)

精確度*:

±1-3% or ±100μm (±4.0mils)

N: 0-30mm (1200mils)

分辨率:

10μm: 0-2mm; 100μm: 2-30mm (1mil: 0-100mils; 10mils: 100-1200mils)

 

探頭設(shè)計

 

凸面直徑

凹面半徑

zui小凈空高度

zui小樣本半徑?

直探頭

鐵基

F

T456CF6S

35mm (1.40")

170mm (6.70")

150mm (5.90")

51 x 51mm2

(2 x 2 sq. inch)

非鐵基

N

T456CN6S

Flat Surface

Flat Surface

160mm (6.30")

58mm (2.30")

鎧裝探頭

鐵基

F

T456CF6ARM

35mm (1.40")

170mm (6.70")

190mm (7.48")

51 x 51mm2

(2 x 2 sq. inch)

T456CN6ARM

Flat Surface

Flat Surface

200mm (7.87")

58mm (2.30")

 


量程 0.5

測量范圍:

0-500μm (0-20mils)

精確度*:

±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil)

分辨率:

0.1μm: 0-100μm; 1μm: 100-500μm (0.01mil: 0-5mils; 0.1mil: 5-20mils)

 

探頭設(shè)計

 

凸面直徑

凹面半徑

zui小凈空高度

zui小樣本半徑?

微型M3探頭

45mm (1.77")

鐵基

F

T456CFM3---A

1.9mm (0.07")

6.5mm (0.26")

6mm (0.24")

3mm (0.12")

非鐵基

N

T456CNM3---A

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

6mm (0.24")

4mm (0.16")

微型M3-90度探頭

45mm (1.77")

鐵基

F

T456CFM3R90A

1.9mm (0.07")

6.5mm (0.26")

Headroom: 16mm (0.63")

Width: 7mm (0.28")

3mm (0.12")

非鐵基

N

T456CNM3R90A

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

Headroom: 16mm (0.63")

Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

 

微型M3-45度探頭

45mm (1.77")

鐵基

F

T456CFM3R45A

1.9mm (0.07")

6.5mm (0.26")

Headroom: 18mm (0.71")

Width: 7mm (0.28")

3mm (0.12")

微型M3-90度角

150mm (5.90")

鐵基

F

T456CFM3R90C

1.9mm (0.07")

6.5mm (0.26")

Headroom: 16mm (0.63")

Width: 7mm (0.28")

3mm (0.12")

非鐵基

N

T456CNM3R90C

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

Headroom: 16mm (0.63")

Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

 

刻度0.5石墨

范圍

0-500μm (0-20mils)

精確度*

±1-3%或±2.5μm(±0.1mil)

分辨率

0.1μm: 0-100μm;1μm: 100-500μm(0.01mil: 0-5mils;0.1mil: 5-20mils)

 

 

探頭樣式

 

 

凸面直徑

 

凹面半徑

 

zui小凈空高度

 

zui小樣本半徑

zui小90°石墨
45mm (1.77")

非鐵基

N

T456CNMG3R90A

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

Headroom: 16mm (0.63")
Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

zui小90°石墨

150mm (5.90")

非鐵基

N

T456CNMG3R90C

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

Headroom: 16mm (0.63")
Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

zui小90°石墨
400mm (15.7")

非鐵基

N

T456CNMG3R90E

6mm (0.24")

8.5mm (0.33")

Headroom: 16mm (0.63")
Width: 7mm (0.28")

4mm (0.16")

 

超聲/掃描探頭

范圍: 0-1500μm (0-60mils)+

 

精確度*^: ±1-3% or ±2.5μm (±0.1mil)

分辨率: 1μm: 0-1500μm (0-60mils)

 

探頭樣式

zui小凈空高度

zui小樣本半徑?

超聲/掃描探頭

鐵基F

T456CF1U

85mm (3.50")5mm (0.59")

兩用型 FNF

T456CFNF1U

85mm (3.50")

5mm (0.59")

產(chǎn)品信息

 

T456C23956

超聲/掃描探頭備用保護蓋(3/包)#

  取較大者

FNF(F): FNF探頭的F模式;   FNF(N):FNF探頭的N模式

使用無涂層基體樣本進行校準

 在光滑表面檢測時,在50多公里(30英里)外掃描探頭保護蓋

不帶探頭保護蓋

 

 

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